OCI-V 光矢量分析系统

产品描述

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间,是一款实现光学器件损耗、色散和偏振测试分析的理想工具。

产品特点

  • 测量长度:200m
  • 自校准
  • 波段:C+L、O波段(可选)
  • 1秒内测量多种光学参数

产品应用

  • 平面波导器件
  • 硅光器件
  • 光纤器件
  • 波长可调器件、放大器、滤波器

测量参数

  • 偏振相关损耗PDL
  • 偏振模色散PMD
  • 插损IL
  • 群延时GD
  • 色散CD
  • 琼斯矩阵参数

产品参数

主要参数
测量长度 200 m
波段 C+L 波段:1525~1625;O 波段:1265~1345 nm
波长分辨率 1.6 pm
波长精度 ±1.0 pm
损耗(IL)
动态范围 60 dB
插损精度 ±0.1 dB
分辨率 ±0.05 dB
群延时 (GD)
量程 6 ns
精度 ±0.2 ps
损耗范围 45 dB
色散(CD)
精度 ±10 ps/nm
偏振相关损耗(PDL)
动态范围 40 dB
精度 ±0.05 dB
偏振模色散(PMD)
量程 6 ns
精度 ±0.1 ps
损耗范围 40 dB
硬件
主机功率 60 W
通讯接口 USB -
光纤接口 FC/APC -
尺寸 D 330 * W350 * H160 mm
重量 7.5 kg
储藏温度 0 ~ 50
工作温度 10 ~ 40
工作湿度 10 ~ 90 %RH

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OCI-V 光矢量分析系统

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