光频域反射技术(OFDR)可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线,利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。

图. 背向散射法测量原理

如图所示,假定DUT前后测量位置为1、2,其对应的光功率分别为P1、P2,对应的散射系数分别为α1、α2,则其对应的反射光功率分别为:Pr1=P1×α1、Pr2=P2×α2

测量位置 1 2
光功率 P1 P2
散射系数 α1 α2
反射光功率 Pr1=P1×α1 Pr2=P2×α2
回损 RL1=-10lg(Pr1/P0) RL2=-10lg(Pr2/P0)

DUT的插损为:IL=-10lg (P2/P1)

1、2处的回损分别为:RL1=-10lg(Pr1/P0)、RL2=-10lg(Pr2/P0)。

当1、2处光纤的散射系数相同时,可推导出IL=(RL1-RL2)/2。背向散射法是反射式测量,光信号往返两次经过DUT,因此需除以2。


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