大会介绍

“光连万物，多彩未来”OCI基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱、延迟等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度的高分辨测量。

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、偏振模色散、偏振相关损耗、群延时等光学参数。

3、OLI 低成本光学链路诊断仪

OLI基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测，可轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。设备采样分辨率最高可达1μm，同时最低可探测到-100dB光学弱信号， 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

时间地点

6.23-6.25

苏州•知音温德姆至尊酒店

展位：<span font-size:12px;box-sizing:border-box="" !important;overflow-wrap:break-word="" !important;"="" style="box-sizing: border-box; margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; font-size: 12px;">C-C13