光纤阵列（FA）在光纤通信中应用广泛，但制作过程中的剥纤、固化等操作易造成微裂纹或断裂，产生严重损耗或失效。使用OLI设备可在生产后对每个通道进行扫描检测，避免损伤，提升产品稳定性。
FA结构示意图
测试接线示意图
分别测量正常与异常通道，得到的扫描曲线结果如图所示：
正常曲线结果（红线）：图中可知第一峰和第二峰之间的间距为15mm，这与待测样品的结构相对应。第一峰对应横腹面，第二峰对应倾角面。此外，还存在第三峰，这是由于部分光在横腹面再次反射，导致光路多走了一个FA的长度（15mm），从而形成第三峰。
异常曲线结果（蓝线）:图中可知第一峰、第四峰和第七峰之间的间距均为15mm，这与正常曲线结果相对应。此外，异常曲线中还存在第2、3、5、6峰。这些额外的峰是由于在距离镀膜端5mm处存在一个破损点。这个破损点导致在5mm处产生第二峰，并在10mm处产生一个强度较低的峰。部分反射光会在倾角面再次反射，形成第5和第6峰。
复杂光路探测时，OLI设备可精确检测光各点反射强度及来回反射，助力分析光传播与样品结构。开发人员和工程师可借此分析样品内部结构、失效点等信息。OLI设备能为新品开发、出货检测、故障品失效分析提供数据支持，为产品改进提供理论参考。
