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产品描述

OCI-T光学器件分析系统具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为20m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。

产品特点

• 空间分辨率：20μm

• 测量长度：20m

• 中心波长：1550nm

• 插损、回损分析

产品应用

• 无源器件插损、回损测量

• 硅光芯片插损、回损测量

• 平面波导器件测试

• 光学链路分析、诊断

产品参数

型号	OCI-T	单位
测量长度1	20	m
空间分辨率2	20	μm
波长扫描范围	40	nm
中心波长	1550	nm
波长精度	1.0	pm
回损动态范围	65	dB
回损测量范围	-130~0	dB
回损灵敏度	-130	dB
回损测量精度	±0.5	dB
回损分辨率	±0.05	dB
插损动态范围3	13	dB
插损测量精度	±0.5	dB
输入电压	AC 220/110V; DC 12V	-
主机功率	60	W
通讯接口	USB	-
光纤接口	FC/APC	-
尺寸	W 345 * D 390 * H 165	mm
重量	7.5	kg
储藏温度	0~50	℃
工作温度	10~40	℃
工作湿度	10~90	%RH

备注：

1. OCI-T测量长度为20m ，后续支持升级至100m ；

2. 空间分辨率为20μm，后续支持升级至10μm；

3. 插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的最大来回损耗。

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OCI-T 光学器件分析系统 产品单页.pdf

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