---

产品描述

OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。

该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。设备采样分辨率最高可达1μm，同时最低可探测到-100dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

产品特点

• 可定制扫描测量长度
  

• 支持多通道测量升级

• 高采样分辨率和定位精度

• 可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境

产品应用

• 光纤微裂纹检测
  

• 产线自动化检测

• FA光纤阵列链路性能检测

• 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测

产品参数

主要参数
基础参数
工作波长	1290~1330/1530~1570			nm
测量长度1	12	45	90	cm
采样分辨率	1			μm
测量距离重复性	0.3			mm
测量时间2	2~18			s
回损测量范围3	-10~-100			dB
回损重复精度	±3			dB
硬件
输入电压	AC 220/110V；DC 12V			-
主机功率	60			W
通讯接口	USB			-
引纤长度4	5			m
光纤接口	FC/APC			-
尺寸	W345*D390*H165			mm
重量	7.5			kg
储存温度	0~50			℃
工作温度	0~40			℃
储存与工作湿度	10~70			%RH

备注：

1. 测量长度指设备最大测量长度，在该最大测量长度内可任意选择测量区间段；

2. 测量时间与测试长度相关，可任意选择扫描长度，测量时间2s@3cm、18s@90cm；

3. -100dB指噪声水平（底噪平均值）;

4. 标准版引纤长度为5m，可选配10m，其他长度可定制 。

文件下载

OLI 低成本光学链路诊断系统_CN.pdf

产品技术规格如有变更，恕不另行通知，如有疑议，请与我司联系。