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产品描述

SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。

该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置窄线宽扫频光源，可应用于系统相干光学信号测量及分析系统的二次开发。

产品特点

• 多功能

• 可扩展扫频光源

• 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量

• C+L、O波段（可选）

产品应用

• 平面波导器件

• 硅光器件

• 光纤器件

• 波长可调器件、放大器、滤波器

• 光学测量分析二次开发

产品参数

主要参数
损耗（IL）
测量长度	200		m
波段1	1525 ~ 1565；1290 ~ 1330		nm
波长分辨率	1.6		pm
波长精度	±1.0		pm
动态范围2	60		dB
插损精度	±0.1		dB
分辨率	±0.05		dB
扫频光源
功率3	1		mW
波长1	1525 ~ 1565；1290 ~ 1330		nm
波长精度	5		pm
扫描速度	10 ~ 100		nm/s
边模抑制比	60		dBc
消光比	15		dB
硬件
主机功率	60		W
通讯接口	USB		-
光纤接口	FC/APC		-
尺寸	W 345 * D 390 * H 165		mm
重量	7.5		kg
储藏温度	0 ~ 50		℃
工作温度	10 ~ 40		℃
工作湿度	10 ~ 90		%RH

备注：

1. 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量；

2. 可升级扫描范围；

3. 可升级高功率版本（2mW/5mW）。

资料下载

SSA 扫频光谱分析系统.pdf

产品技术规格如有变更，恕不另行通知，如有疑议，请与我司联系。