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产品描述

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、偏振模色散、偏振相关损耗、群时延等光学参数。该系统采用独特的光路设计以及先进算法，实现了智能校准，操作简单，极大节省测试时间。

产品特点

• 自校准

• 测量长度：200m

• 波段：C+L、O波段（可选）

• 1秒内测量多种光学参数

产品应用

• 平面波导器件

• 硅光器件

• 光纤器件

• 波长可调器件、放大器、滤波器

产品参数

主要参数
	标准模式	高动态范围模式
测量长度1	200		m
波段	C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340		nm
波长分辨率	1.6		pm
波长精度	±1.0		pm
损耗（IL）
动态范围	60	80	dB
插损精度	±0.1	±0.05	dB
分辨率	±0.05	±0.002	dB
回损精度	±0.1		dB
群时延 （GD)
量程	6		ns
精度	±0.2	±0.1	ps
损耗范围	45	60	dB
色散（CD）
精度	±10	±5	ps/nm
偏振相关损耗（PDL)
动态范围	40	50	dB
精度	±0.05	±0.03	dB
偏振模色散（PMD）
量程	6		ns
精度	±0.1		ps
损耗范围	40	50	dB
硬件
主机功率	60		W
通讯接口	USB		-
光纤接口	FC/APC		-
尺寸	W 345 * D 390 * H 165		mm
重量	7.5		kg
储存温度	0 ~ 50		℃
储存与工作温度	10 ~ 40		℃
定制功能2
测量长度	100		m
空间分辨率	10μm@50m	20μm@100m	μm
回损测量范围	-125 ~ 0		dB
插损动态范围	18		dB
插、回损分辨率	0.05		dB
插、回损精度	±0.1		dB

备注：

1. 透射模式测量长度200m，可拓展反射模式，测量长度为100m；

2. 光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能，测量光纤链路。

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