
产品描述
OCI是一款超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损、光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断,还可拓展分布式光纤传感功能,实现应变和温度高分辨测量。
产品特点
- 波长范围:1525~1625nm或1265~1340nm
- 空间分辨率:10μm@50m,20μm@100m
- 测量长度:100m(可定制升级)
- 自校准,无需人为干预,稳定性好
- 可扩展分布式温度、应变测量
- 支持软硬件定制,如网口通讯、远程 控制和系统集成
产品应用
光纤通信
- 光器件、光模块测量
- 光纤长度精确测量
- 硅光芯片测量
- 光谱、群延时测量
分布式温度、应变传感
- 土木建筑结构健康监测
- 复合材料抗疲劳检测
- 汽车结构应变、温度检测
- 应变场、温度场重构
产品参数
主要参数 |
|||
测量长度1 |
50 |
100 |
m |
空间分辨率 |
10 |
20 |
μm |
测量时间2 |
<8 |
<12 |
s |
灵敏度 |
-130 |
dB |
|
回损测量范围 |
-125~0 |
dB |
|
回损动态范围 |
80 |
dB |
|
插损动态范围 |
18 |
dB |
|
回损、插损分辨率 |
0.05 |
dB |
|
回损、插损精度 |
±0.1 |
dB |
|
盲区 |
无 |
- |
|
光谱 |
|||
波长范围3 |
1525~1625或1265~1340 |
nm |
|
波长分辨率 |
0.015 |
pm |
|
波长重复精度 |
±1.0 |
pm |
|
群延时精度 |
1.0 |
ps |
|
硬件 |
|||
输入电压 |
AC 220/110V;DC 12V |
- |
|
主机功率 |
60 |
W |
|
通讯接口 |
USB |
- |
|
光纤接口 |
FC/APC |
- |
|
尺寸 |
D 330 * W350 * H160 |
mm |
|
重量 |
7.5 |
kg |
|
储藏温度 |
0~50 |
℃ |
|
工作温度 |
10~40 |
℃ |
|
工作湿度 |
<90 |
%RH |
|
扩展功能4 |
|||
干涉仪延时测量5 |
|||
测量长度 |
50 |
100 |
m |
重复精度6 |
0.1 |
mm |
|
分布式应变/温度测量 |
|||
传感长度 |
50 |
100 |
m |
传感空间分辨率 |
5 |
mm |
|
应变测量精度 |
±1.0 |
με |
|
应变测量范围 |
±12000 |
με |
|
温度测量精度 |
±0.1 |
°C |
|
温度测量范围7 |
-200~1200 |
°C |
备注:
- 长度可定制;
- 不同模式的测量时间不同;
- 可定制其他波段;
- 扩展功能为升级模块,需单独购买;
- 实际测量值为延时,输入折射率可得到长度值;
- 高精度模式;
- 温度测量范围取决于传感器。
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