
产品描述
LGA50是一款超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,测量长度50m,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。LGA50可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1mm。
产品特点
- 波长范围:1525~1615nm
- 空间分辨率:10μm@50m
- 测量长度:50m
- 自校准,无需人为干预,稳定性好
产品应用
- 光器件、光模块测量
- 光纤长度精确测量
- 硅光芯片测量
- 光谱、群延时测量
产品参数
主要参数 |
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测量长度 1 | 50 | m | |
空间分辨率 | 10 | μm | |
测量时间 2 | <10 | s | |
灵敏度 | -128 | dB | |
回损动态范围 | 80 | dB | |
插损动态范围3 | 16 | dB | |
回损、插损分辨率 | 0.05 | dB | |
回损、插损精度 | ±0.1 | dB | |
盲区 | 无 | - | |
光谱 | |||
波长范围 | 1525 ~ 1615 | nm | |
波长分辨率 | 0.015 | pm | |
波长重复精度 | ±1.0 | pm | |
群延时精度 | 1.0 | ps | |
硬件 | |||
输入电压 | AC 220/110V 和 DC 12V | - | |
主机功率 | 50 | W | |
通讯接口 | USB | - | |
光纤接口 | FC/APC | - | |
尺寸 | D 390 * W 345 * H 165 | mm | |
重量 | 10 | kg | |
储藏温度 | 0 ~ 50 | ℃ | |
工作温度 | 10 ~ 40 | ℃ | |
工作湿度 | <90 | %RH |
备注:
- 长度可扩展到100m;
- 不同模式下测量时间不同;
- G·652D光纤瑞利散射高于底噪16dB。
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