LGA50 高分辨光学链路诊断仪

产品描述

LGA50是一款超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,测量长度50m,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。LGA50可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1mm。

产品特点

  • 波长范围:1525~1615nm
  • 空间分辨率:10μm@50m
  • 测量长度:50m
  • 自校准,无需人为干预,稳定性好

产品应用

  • 光器件、光模块测量
  • 光纤长度精确测量
  • 硅光芯片测量
  • 光谱、群延时测量

产品参数

主要参数

测量长度 1 50 m
空间分辨率 10 μm
测量时间 2 <10 s
灵敏度 -128 dB
回损动态范围 80 dB
插损动态范围3 16 dB
回损、插损分辨率 0.05 dB
回损、插损精度 ±0.1 dB
盲区 -
光谱
波长范围 1525 ~ 1615 nm
波长分辨率 0.015 pm
波长重复精度 ±1.0 pm
群延时精度 1.0 ps
硬件
输入电压 AC 220/110V 和 DC 12V -
主机功率 50 W
通讯接口 USB -
光纤接口 FC/APC -
尺寸 D 390 * W 345 * H 165 mm
重量 10 kg
储藏温度 0 ~ 50
工作温度 10 ~ 40
工作湿度 <90 %RH
备注:
  1. 长度可扩展到100m;
  2. 不同模式下测量时间不同;
  3. G·652D光纤瑞利散射高于底噪16dB。

文件下载

LGA50 Datasheet

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