发展历史

2020~2021

再次突破技术壁垒，推出OCI-V光矢量分析系统，实现高分辨波长下损耗、色散、偏振等全光学参数测量。系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，使用方便，解决光通信及硅光子器件测试难题。
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