产品描述
OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。
产品特点
- 测量长度：200m
- 自校准
- 波段：C+L、O波段（可选）
- 1秒内测量多种光学参数
产品应用
- 平面波导器件
- 硅光器件
- 光纤器件
- 波长可调器件、放大器、滤波器
测量参数
- 偏振相关损耗PDL
- 偏振模色散PMD
- 插损IL
- 群延时GD
- 色散CD
- 琼斯矩阵参数
- 光学相位
产品参数
| 主要参数 | ||
| 测量长度 | 200 | m |
| 波段 | C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1345 | nm |
| 波长分辨率 | 1.6 | pm |
| 波长精度 | ±1.0 | pm |
| 损耗（IL） | ||
| 动态范围 | 60 | dB |
| 插损精度 | ±0.1 | dB |
| 分辨率 | ±0.05 | dB |
| 群延时 （GD) | ||
| 量程 | 6 | ns |
| 精度 | ±0.2 | ps |
| 损耗范围 | 45 | dB |
| 色散（CD） | ||
| 精度 | ±10 | ps/nm |
| 偏振相关损耗（PDL) | ||
| 动态范围 | 40 | dB |
| 精度 | ±0.05 | dB |
| 偏振模色散（PMD） | ||
| 量程 | 6 | ns |
| 精度 | ±0.1 | ps |
| 损耗范围 | 40 | dB |
| 硬件 | ||
| 主机功率 | 60 | W |
| 通讯接口 | USB | - |
| 光纤接口 | FC/APC | - |
| 尺寸 | D 390 * W 345 * H 165 | mm |
| 重量 | 7.5 | kg |
| 储藏温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
| 工作温度 | 10 ~ 40 | ℃ |
| 工作湿度 | 10 ~ 90 | %RH |
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